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円形干渉計測距による高速光干渉断層撮影

2018年1月26日 Nature Photonics 12, 2 doi: 10.1038/s41566-017-0088-x

既存の三次元光学的画像化法は、管理された環境では優れているが、大きくて不規則かつ動的な現場に展開することは困難である。これは、材料検査や医薬品などの分野における利用に適していないということである。今回我々は、こうした用途によりよく対応するために、疎な散乱場、すなわちほとんどの場所（ボクセル）で有意な信号が生成されない散乱場を効率よく調べるための光干渉断層撮影法を開発している。周波数コム源を用いて、等間隔の場所からの反射信号を光サブサンプリングによって重ね合わせている。これによって、円形測距が得られ、大きな立体空間を調べるのに必要な測定回数が削減された。結果として、光干渉断層撮影において速度と利用現場を制限していた信号取得の障壁が回避された。7.6 MHzから18.9 MHzの繰り返し率で動作する新しい超高速の時間引き伸ばし周波数コムレーザーを設計することによって、最大秒速7.5ボリュームでの数cm³の立体空間の画像化が実現された。

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