In situ波面補正とマイクロマニピュレーションへの応用

あらゆる光学系では、伝搬波面のひずみが、光場の空間的コヒーレンスを低下させ、これにより理論的な回折限界のスポットサイズを得ることがますます困難になる。このような収差は、イメージング、ナノサージェリー、ナノファブリケーション、マイクロマニピュレーションだけでなく、最新の顕微鏡法の枠内のその他の技術の最適性能に大きな悪影響をもたらしている。我々は、光トレイン全体にわたってすべての収差の補償を可能にする真のin situ波面補正のための、複素変調を利用した一般的な方法を提示する。この方法の能力が、波面のひずみに敏感なマイクロマニピュレーションの分野で実証されている。我々は、1ミリワットに満たない出力の最適集束レーザー光での直接捕捉と、非常に濁った拡散性媒質を通した初の捕捉を報告する。これは、コロイド物理や生物物理における光マイクロマニピュレーションに新たな展望を開くものであり、さまざまな形式の先端イメージング技術に役立つ可能性がある。