ナノ干渉法による強集束ベクトルビームの振幅と位相の再構成

強く閉じ込められたベクトル電磁場分布は、非線形顕微鏡法、高性能蛍光画像化、ナノプラズモニクスなどのナノ光学分野において詳細な研究を行うための優れた手段である。そのような電磁場分布は、例えば、偏光ビームの強集束によって発生させることができる。サブ波長サイズの物体の研究において高い分解能を保証するには、励起ベクトル場の空間分布に関する正確な知識が何よりも重要である。これまで提示された全場再構成法は、例えば、複雑な近接場技術を必要とする。今回我々は、場のプローブとしての単一球状ナノ粒子の散乱信号を用いた、単純で実施しやすい測定方式と再構成アルゴリズムを実証している。我々は、散乱光の偏光解析を必要とせずに、1回のスキャン測定によって、個々の焦点場成分の振幅と相対位相をサブ波長分解能で再構成できた。この方式によって、顕微鏡技術やナノ顕微鏡技術を向上させることができる可能性がある。